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摘要 #!E`%'
s] 8:)[. 干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 'IFA>}e7W K\xnQeS<W
+ K`.ck v_Df+ 建模任務(wù) *rbgDaQ _iCrQJ0"T :y`LF< @$!6u0x 元件傾斜引起的干涉條紋 ]uF7HX7F <T;V9(66 S=lCzL;j" $STGH
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