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摘要 {P5@2u6S X3nhqQTZ 斐索干涉儀是工業(yè)中常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 l.juys8s 75HL X
A|`wAGP ,Aii>D] 建模任務(wù) (n/1:' /WfVG\NF t["Df;"O ~'MWtDe:Z8 傾斜平面下的觀(guān)測(cè)條紋 ^j %UZ <^Tj}5)n F21[r!3 6~ `bAe`} 圓柱面下的觀(guān)測(cè)條紋 A.O~'')X ?m1$*j 0Q
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