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摘要 @EURp Aj]/A 2Jky,YLcb 楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫,在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 6-~ZOMlV 使用一個(gè)單點(diǎn)光源,我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對(duì)干涉的影響;在擴(kuò)展光源的情況下,我們觀察到干涉對(duì)比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 DQ}&J \x<,Ma=D IAWs}xIly 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 9@?|rje9 nXk9
IG( 2I3H?Lrx!m 固定狹縫距離(500μm)和變化的狹縫寬度 E@%1HO_ ecx_&J@D bxPJ5oT 固定狹縫寬度(100μm)和變化的狹縫距離 i1X!G|Awfv BUdO:fr 03AQB;. \vx'+} 任務(wù)描述-單個(gè)離軸點(diǎn)光源 OJ7Uh_;/ >sdF:(JV& P8#_E{f 離軸點(diǎn)光源的結(jié)果(橫向位移X方向 60 μm) 7L!}F;yT mhM;`dl ul
b0B" 建模任務(wù)–擴(kuò)展光源 oB
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