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摘要 }P(RGKQZ" QA>(}u\+ !>fYD8Ft, 楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫,在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 59mNb:< 使用一個(gè)單點(diǎn)光源,我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對(duì)干涉的影響;在擴(kuò)展光源的情況下,我們觀察到干涉對(duì)比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 c.-h'1 5I/wP qR[ Mx{VN
P 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 DP\s-JpI[ VeiJ1=hc nv&uhu/q 固定狹縫距離(500μm)和變化的狹縫寬度
R)i Go~bQ2*'(/ Ot}fGiio 固定狹縫寬度(100μm)和變化的狹縫距離 Atl`J.;G JwCv(1$GM {6{y"8 z@;]Hy 任務(wù)描述-單個(gè)離軸點(diǎn)光源 Vcn04j#Q F
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