[分享]馬赫-曾德爾干涉儀 [復(fù)制鏈接]

摘要 ]j}zN2[A  
F C2oP,  
干涉測量是一種光學(xué)計(jì)量的重要技術(shù)。 它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，機(jī)械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測量。 作為一個(gè)典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們?cè)?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=VirtualLab',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_9">VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學(xué)元件的傾斜和移位對(duì)干涉條紋圖案的影響。 !3-mPG< ]  
7?]gUrE  
建模任務(wù) Mw\/gm_3  
(b GiBsb  
C;OU2,c,T  
元件傾斜引起的干涉條紋 '.#KkvE##  
pr>K#@^  
元件移位引起的干涉條紋 |U8;25Y