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摘 要 G_vWwH4XtL
.sI*\@ w. 斐索干涉儀是工業(yè)中常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀，并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 &YC Z
L ecaEWIOG 建模任務(wù) 3D32'KO_" B3|h$aKC
 E-gI'qG\( 1Tl^mS~k 傾斜平面下的觀測(cè)條紋 <LL+\kfTZO ko<u0SjF)u
 uq?(( f y9mS 圓柱面下的觀測(cè)條紋
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 [A~n=m5H zwJB.4@ 球面下的觀測(cè)條紋 E)w6ZwV p[oR4 HWr  $d0xJxM " /H B# VirtualLab Fusion 視窗 6d~[j <@2 DBTeV-G9~R  1i=l Jmr ^4MRG6G VirtualLab Fusion 流程 bd|ZhRsL
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