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    [分享]用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-02-23
    _cc#Qlw 7  
    摘要 G3rj`Sg^c  
    n84GZ5O>7  
     J41G&$j(  
    |37 g ~  
    斐索干涉儀是工業(yè)上常用的一種光學(xué)測(cè)量儀器，常用于高精度的光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)。利用VirtualLab Fusion的非序列追跡技術(shù)，我們建立了斐索干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面，如柱面和球面，可以發(fā)現(xiàn)由此產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓很敏感。 LE*h9((  
    r=6v`)Qr  
    建模任務(wù) .!G94b  
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     DqX{'jj  
    mExVYp h  
    觀測(cè)傾斜平面 lWqrU1Sjl  
    I =1+h  
     !OT-b>*w  
     nv0]05.4  
    觀測(cè)柱面 T'LIrf  
    \[jq4`\$  
     $dA-2e1 0  
    v@wb"jdFi$  
    觀測(cè)球面 L3n_ 5|  
    z,VD=Hnz  
     qQ0cJIISb\  
    L~