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簡介 `jkn*:m C!P6Z10+j 當一個分析請求執(zhí)行時,重要的是記住在FRED中的分析面只是在光線追跡結束后的后處理(過濾)光線。在光線追跡的過程中,它們不收集光線信息,無論光線的軌跡是否穿過分析網格。那么問題來了,“如何分析在光線追跡的過程中光線穿過光學空間的光場?” \#}%E h
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4WWQ5 一種選擇是使用FRED探測器實體(Detector Entity)結構。探測器實體與分析面類似,不過它們可以放在任何光學空間,而且可以在光線追跡的過程中動態(tài)地收集光線信息(即光線穿過它們的收集網格)。目前,探測器實體對于相干或偏振光不起作用,只可以執(zhí)行輻照度、照度和彩色圖像的分析。 WQ]pg
" 3QVng^"B) 盡管FRED沒有一個內置的“光束足跡分析”程序,但我們將在FRED中使用探測器實體結構來實現類似的功能。 PrcM'Q Pg36'aTe%j 設置計算 M@3H]t? 4c yv
8 文章使用如下圖像所示的光學系統。我們的目的是分析沿著如下所示的光路多個平面的處的光束足跡。 s5dh]vNN 57}q'84 為了捕捉在光線追跡中光線透過每個我們感興趣平面的足跡,我們將會使用FRED中的探測器實體結構。探測器實體是一種分析節(jié)點的類型,它可以在光線追跡中與光線相互作用,可以定義多種多樣的形狀。光線相互作用,與光線濾光(一個后追跡過程)截然相反,使探測器實體能夠在任何光學空間任何時間動態(tài)地收集數據。探測器實體本身能收集三個不同時間的數據:在光線追跡中(即,使用在追跡中任何時刻與探測器實體相交的光線),剛好在光線追跡后(即,“終止”在探測器實體上的光線),或者根據請求(即,請求時“在”探測器實體上的光線)。在一個具有和探測器實體相同名字的分析結果節(jié)點中,對于每個探測器實體來說,光線面元的結果對用戶來說是可獲得的。記住,因為探測器實體在光線追跡中時是交叉的,您不應該放置一個探測器實體與結構中的其他表面重合。不遵守這個規(guī)則可能會導致不一致的結果,這歸因于與交叉重合的對象相聯系的歧義性。 -wt2ydzos l]Sui_+ZU 與該文檔對應的示例文件有5個平面探測器實體,位于系統中我們感興趣的平面上。這些探測器實體位于對象樹的分析面文件夾中,如下圖所示。 cG'Wh@ YGO@X(ej, $} Myj'`r 讓我們來看看對于“光源平面”探測器實體詳細的控制。對于該探測器實體,平面X和Y尺寸范圍明確的限制為+-3,網格沿著A和B軸(X和Y)的分辨率設置為201,沿著整個寬度。正在做的計算是輻照度,用于分析的數據正在“追跡中”被收集。盡管對于我們的例子來說這并不重要,探測器實體可以收集橫跨表面任何一個方向的光線數據。最后,探測器實體不吸收光線。 \4[Ta,;t hd
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