切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 923閱讀
    • 0回復(fù)

    [推薦]光學(xué)斷層掃描干涉法 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5410
    光幣
    21230
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-09-23
    摘要 jWb;Xk4  
    axOdGv5  
    掃描干涉法是實(shí)現(xiàn)表面高度測量的技術(shù)。通過利用白色光源的低相干性，只有當(dāng)光程差在相干長度內(nèi)，干涉圖案才會出現(xiàn)。因此，它使精確微觀測量成為可能。使用一個氙燈搭建了一個邁克耳孫干涉儀，用于測量具有平滑變化前表面的樣品。 NpRT\cx3  
    +p =n-  
     XUU l*5^  
    dMsX}=EI<  
    建模任務(wù) #vhxW=L`=  
    B7qm;(?X&  
     umXa   
    8U B-(~  
    結(jié)果 Mn(:qQo^&`  
    -#v1b>ScY  
    DSyfF&uC  
    RE]u2R6Y  
    文件信息 V7u;"vD  
    3O<:eS~  
     sfez0Uqe.~  
    QK -_~9V  
     rmc0dm&l]  
    QQ：2987619807 d?_Bll"  
     
    分享到