|
|
摘要 QQN6\(;- s 7w A3|9 在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過(guò)測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類(lèi)型的光路。 =s*c(> {a V,h@>  LNR1 YC1c w/ZP. B 建模任務(wù) :d35?[ &E0^Jz  x 2&5 zp }jC^&%| 橫向干涉條紋——50 nm帶寬 0[d*Z 0Cf'\2
 -wx~* C :sgT6 橫向干涉條紋——100 nm帶寬 Y=Ic<WHR j~.tyxOq#  >h~ik/|* i9qIaG/ 逐點(diǎn)測(cè)量 l?_Fy_fBt
tj* 0Y-F~
 N$t<&5 + x;:jF_ VirtualLab概覽 ep},~tPZn
>0iCQKq  X efmC6X
l+&DBw[
|
