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摘要 QQ\\:]iM <RJ+f- 在干涉儀中,條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如,在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中,干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過測量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度,可以得到光源的相干長度。典型的傅里葉變換光譜通;谶@種類型的光路。 *_H^]wNJG x9
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