切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 1186閱讀
    • 0回復

    [推薦]馬赫-曾德爾干涉儀 [復制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5495
    光幣
    21639
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-08-06
    摘要 )M2F4[vcb  
     o1nURJ!  
    干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 \.M*lqI  
    +{sqcr1G  
    建模任務 fM^[7;]7e  
    "RIZV  
    G[jW<'f  
    元件傾斜引起的干涉條紋 #c^^=Z  
    Z`YJBcXR  
    !!Z?[rj  
    元件移位引起的干涉條紋 HSq}7S&U  
    6'xsG?{JY  
    2wF8 P)  
    文件信息 \d::l{VB  
     s&'QN=A  
    jt+iv*2N>  
    QQ：2987619807
     
    分享到