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發(fā)表于: 2019-12-09
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干涉儀
摘要
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EqBTN07dZS
掃描
干涉儀
是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過利用白光
光源
的低相干性,僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實(shí)現(xiàn)精確的
顯微鏡
測(cè)量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。
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圖片:1-191209152110491.png
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