[分享]VirtualLab：菲索光學(xué)測(cè)試干涉儀 [復(fù)制鏈接]

摘 要 1j${,>4tQ  
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斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀，并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 +O.&64(
 
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建模任務(wù) MA/"UV&M(  
7Ap~7)z[  

圖片:1-1Z52Q04632948.png

b]tA2~e  
q N[\J7Pz9  
傾斜平面下的觀測(cè)條紋 q>(I*=7  
84hi, S5P  

圖片:1-1Z52Q04AIK.png

s)o,Fi  
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圓柱面下的觀測(cè)條紋 _!$Up  
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圖片:1-1Z52Q04H0113.png

PJSDY1T  
_x,-d|9bd  
球面下的觀測(cè)條紋 Ht=6P)  
rlUdAa3  

圖片:1-1Z52Q04J42T.png

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