CODE V 11.5新版本功能介紹

CODE V 11.5版本于2021年3月發(fā)布，本文給大家介紹下新版本的功能更新。

鏡頭數(shù)據(jù)管理器的改進(jìn)：

新的隱藏鏡頭模塊功能允許你創(chuàng)建一個(gè)光學(xué)元件，該元件可以在CODE V的光學(xué)模型中使用，以表示光學(xué)系統(tǒng)的全部或者部分模型，而不會暴露模塊的內(nèi)部信息。也就是說，可以對包含一個(gè)或多個(gè)隱藏鏡頭模塊（HLM）的光學(xué)模型進(jìn)行分析和可視化，而不揭示加密的信息。

表面轉(zhuǎn)換，通過改變表面類型進(jìn)行的轉(zhuǎn)換，目前支持XY多項(xiàng)式表面（SPS XYP）和CODEV所支持的Zernike表面（SPS ZRN，SPS ZFR 和SPS ZFE）以及Q型自由曲面（SPS Q2D）之間的轉(zhuǎn)換。

對于全息光學(xué)元件（DIF HOE），其物和參考構(gòu)造點(diǎn)可以浸入介質(zhì)。之前版本的浸入介質(zhì)只能是空氣，新版本的浸入介質(zhì)可以通過折射率來定義。在構(gòu)造點(diǎn)的設(shè)置窗口增加了折射率的輸入項(xiàng)，相對應(yīng)在命令行輸入中增加了HI1和HI2命令的輸入。

CODE V 11.3版本引入了編輯系數(shù)表格的窗口，當(dāng)前的新版本對XY多項(xiàng)式（SPS XYP）、Zernike多項(xiàng)式（SPSZRN）和Fringe Zernike多項(xiàng)式（SPS ZFR）表面類型也增加了編輯系數(shù)表格的窗口。因此，除了可以將多項(xiàng)式非球面系數(shù)輸入到參數(shù)表中，還可以將它們輸入到2D網(wǎng)格形式的系數(shù)表中。

增加了用Chebyshev多項(xiàng)式定義的用戶自定義表面（UD1）。該功能允許你用Chebyshev多項(xiàng)式的形式在基表面上增加非球面矢高。設(shè)置方法：首先，使用用戶自定義表面1類型（UD1）創(chuàng)建新的自定義表面，然后在表面上使用CODE V提供的cv_ud1_chebyshev_w.dll文件（該文件位于UMR文件夾中）。

SpecBuilder的改進(jìn)：

SpecBuilder增加了 “MTF（方波）”規(guī)格，可以計(jì)算衍射方波的響應(yīng)。之前版本中的“MTF”規(guī)格已被重新命名為“MTF（正弦波）”。

優(yōu)化的改進(jìn)：

更新了玻璃專家，運(yùn)行速度更快，并且增加了初始系統(tǒng)和設(shè)計(jì)要求關(guān)于可接受玻璃的檢查。設(shè)置了一個(gè)輸入?yún)��?shù)可以讓你控制玻璃專家在開始執(zhí)行前是否需要一個(gè)確認(rèn)提示。對于Hikari玻璃，玻璃專家現(xiàn)在也允許進(jìn)行可用性的篩選了。

自動設(shè)計(jì)窗口增加了一個(gè)新的控件（Optimization>Automatic Design菜單）Advanced選項(xiàng)卡：使用BFGS方法計(jì)算二階導(dǎo)數(shù)（BFG Yes|No）。這個(gè)控件可以讓你選擇用Broyden-Fletcher-Goldfarb-Shanno(BFGS)算法作為阻尼最小二乘法（DLS）優(yōu)化中的二階導(dǎo)數(shù)矩陣測定的替代算法。BFGS算法可以讓二階導(dǎo)數(shù)矩陣病態(tài)的優(yōu)化問題(例如，帶有多個(gè)奇異變量的二階導(dǎo)數(shù)矩陣) 得到更好的優(yōu)化結(jié)果。 

分析的改進(jìn)：

對于真實(shí)無焦模式（AFC Y）的系統(tǒng)，支持使用主光線瞄準(zhǔn)命令（CRA SI）的特殊形式來移動參考球面的功能（用于OPD計(jì)算）。

CODE V現(xiàn)在包含由Imatest公司提供的一組.bmp位圖文件，該文件可以用于二維圖像仿真（IMS）。Imatest圖表可以用于CODE V的鏡頭設(shè)計(jì)中評估假設(shè)有完美的光電元件，探測器和讀出電子學(xué)的鏡頭性能。

腳印圖（FOO）和查看孔徑（VAP）的輸出圖中，當(dāng)光標(biāo)懸停在圖上的一個(gè)區(qū)域時(shí)，光標(biāo)會顯示當(dāng)前的X，Y坐標(biāo)值和徑向表面坐標(biāo)值，單位同鏡頭系統(tǒng)的單位（毫米，厘米或英寸）。

Macro-PLUS的改進(jìn)

9個(gè)新的數(shù)組數(shù)學(xué)宏函數(shù)和1個(gè)ATAN2F函數(shù)。

新的ALIGNCDS宏修改了指定的CAD表面（即CAD表面類型的表面）使用傾斜/偏心命令和CFL偏移將CAD表面的坐標(biāo)系與參考光線的對準(zhǔn)。

在使用QED公司的SSI系列子孔徑拼接干涉儀系統(tǒng)時(shí)，SSIA宏可以用來評估大多數(shù)CODE V表面類型的可測試性。

SSIADEF定義了一個(gè)用戶自定義宏函數(shù)@SSIA。在使用QED公司的SSI系列的子孔徑拼接干涉儀系統(tǒng)時(shí)，該宏函數(shù)可用于評估大多數(shù)CODE V表面類型的可測試性。

DNDTCALC.SEQ得到改進(jìn)，支持需要進(jìn)行方程調(diào)整的負(fù)的λ-tk材料。

MTF_FROM_BSP.SEQ得到了改進(jìn)，可以處理變焦系統(tǒng)和不活躍的變焦位置。如果最大頻率不足截止頻率的75%，宏還會顯示警告，因?yàn)檫@會降低MTF計(jì)算的精度。