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    • CODE V中改變畫圖時的缺省設置

    作者：孫萬新 來源：歐熠光電 時間：2016-10-10 16:00 閱讀：9245 [投稿]
    CODE V力求為所有的選項設置最智能化的參數(shù)，但是也提供了許多可以定制的內(nèi)容，使得您可以改變這些缺省設置，符合您的光學系統(tǒng)或者您的使用習慣。

    CODE V力求為所有的選項設置最智能化的參數(shù)，但是也提供了許多可以定制的內(nèi)容，使得您可以改變這些缺省設置，符合您的光學系統(tǒng)或者您的使用習慣。例如在畫圖選項 (Display> ViewLens menu; or VIE command). 這里我們介紹如何改變3個缺省設置。

    1.元件內(nèi)的光線是否繪制 (RIE Y|N). 缺省是繪制 (RIE Y)，如圖：  


    你可以去掉這個小勾，改為不繪制：（ RIE N command）


    對于有許多視場的系統(tǒng)，或者有許多薄元件的系統(tǒng)，這樣的設置更容易看清透鏡和透鏡組。 

    2.被阻擋的光線是否繪制 (CAB Y|N). 作為診斷選項，繪圖時會繪制出全部的光線，盡管一些光線會被孔徑擋住。 (CAB N): 


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    文章點評

    宋光明：那種形狀有奇怪的鏡片是怎么搞的啦(2016-10-12)