CODE V使用技巧：使用凹陷量資料進行表面擬合

有時候，你可能會想要用一組測量到的凹陷量數(shù)據(jù)在CODE V中進行表面的擬合。凹陷量數(shù)據(jù)可以是產(chǎn)品通過儀器實際測量得到的結(jié)果，其目的既可能是想知道加工誤差，也可以是座艙或汽車的擋風玻璃這些不具一般表面參數(shù)的數(shù)據(jù)。如今CODE V最近提供了一個宏可以幫助你完成這樣的任務。

宏的執(zhí)行流程相當簡單，主要是利用CODE V的優(yōu)化功能來完成擬合計算。該宏會創(chuàng)建一套具有兩個表面（參考面與擬合面）的系統(tǒng)來進行擬合，目的是計算參考面與擬合面間的光程距離，如「圖一」所示。優(yōu)化中使用自定義的誤差函數(shù)，定義在不同表面位置上，參考面與擬合面間之光程距離為誤差函數(shù)。而誤差函數(shù)的目標會設定為數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)中每個相應位置的凹陷量，光程距離越接近凹陷量數(shù)據(jù)，則誤差函數(shù)越小。所以在優(yōu)化后，擬合面的外形將吻合給定的凹陷量數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)（有適當自由度的情況下）。

圖一

使用者可以自行決定要用哪一種表面類型和哪些可變參數(shù)來進行擬合�！笀D二」是一個顯示出非球面在加工過程中產(chǎn)生表面殘波的典型范例，此為以QBF為表面類型和使用足夠的非球面系數(shù)進行擬合后之結(jié)果。

圖二

關(guān)于CODE V

CODE V是成像系統(tǒng)工程設計軟件，以序列方式處理幾何光學問題，綜合性涵蓋了廣泛的光學結(jié)構(gòu)與計算，提供全方位設計、公差、價格、制造與組合的光學設計平臺。

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