CODE V的直接帶公差優(yōu)化SAB（1）

以前CODE V降低公差敏感度的方法主要有直接和間接兩種，都有各自的缺點，直接法效果更好一點，但缺點是建模慢、費事，主要是使用全局優(yōu)化法尋找公差不敏感的結構形式，時間有時是相當長，出來很多的結構形式，需要一一整理、過目、分析。間接法比較快，不直接控制系統(tǒng)性能，但是也有缺點，比如也需要控制各種邊界條件。常用的間接方法比如控制入射光線的入射角和折射光線的出射角，控制進出元件的光線的方向余弦等。

現(xiàn)在的最新的優(yōu)化算法可以直接帶公差優(yōu)化，SAB就是直接用于降低As-built產(chǎn)品的公差敏感度，可以在局部優(yōu)化中使用，也可以在全局優(yōu)化中使用（波差作為評價函數(shù)的標準）。設置SAB的對話框和命令如下圖：

SAB的工作流程是：

1.使用有限差分的方法計算變量的導數(shù)增量（微信訂閱號“歐熠光電”，2014/8/9發(fā)過一篇文章“用于優(yōu)化的導數(shù)增量”，請查看“歷史消息”）：DER FDF IA

2.不使用SAB優(yōu)化你的鏡頭，然后定義公差和補償器

3.使用SAB，設置SAB的權重，然后優(yōu)化鏡頭

4.重復3，不斷調整SAB的權重，直到各個視場比較均衡，你滿意為止 

如果你使用全局優(yōu)化，需要加上一些其它的控制技巧，這樣才能比較快地得到SAB的運行結果。

我們來看一個簡單的例子：雙高斯照相鏡頭