TracePro主要功能介紹

TracePro是一套功能強(qiáng)大、準(zhǔn)確可靠、介面友善、易學(xué)易用的光線追跡模擬軟體，專門(mén)作為照明設(shè)計(jì)或是光學(xué)機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)之用。TracePro可以進(jìn)行光學(xué)成像分析、輻照度分析及人眼視覺(jué)成像分析等，幾乎涵蓋所有光線追跡上的問(wèn)題。

TracePro擁有完整成熟的視窗介面，其直覺(jué)友善的設(shè)計(jì)架構(gòu)，可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實(shí)體繪圖引擎作為其CAD的運(yùn)算核心，能輕易地新建或匯入光學(xué)模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規(guī)格(SAT檔)，故其幾何轉(zhuǎn)檔上的相容性極高。另外，TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔桉格式。亦可匯入鏡頭設(shè)計(jì)檔桉(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做后續(xù)光線追跡之用。TracePro獨(dú)家研發(fā)的RepTile功能，可方便地建構(gòu)重複性的光學(xué)零組件，特別像是LCD的背光模組導(dǎo)光板上的網(wǎng)點(diǎn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可以大幅減低建模時(shí)間，加速產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)生產(chǎn)時(shí)程。

TracePro的光線追跡的運(yùn)算核心屬于非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing)，除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外，亦可使用內(nèi)建的光源及材料資料庫(kù)來(lái)執(zhí)行光學(xué)材料的設(shè)定。TracePro可以同時(shí)或個(gè)別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學(xué)薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學(xué)材料行為。搭配Monte Carlo的統(tǒng)計(jì)採(cǎi)樣計(jì)算方式，其光線追跡的結(jié)果十分可靠，能夠準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)光學(xué)行為。

在分析結(jié)果后處理的部分，TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進(jìn)行后處理的視覺(jué)化輸出，并可以匯出該結(jié)果作為儲(chǔ)存或資料交換之用，有助于企業(yè)累積其產(chǎn)品知識(shí)。